डीबी-एफआयबी
सेवा परिचय
सध्या, DB-FIB (ड्युअल बीम फोकस्ड आयन बीम) चा वापर खालील क्षेत्रांमध्ये संशोधन आणि उत्पादन तपासणीमध्ये मोठ्या प्रमाणावर केला जातो:
सिरेमिक साहित्य,पॉलिमर,धातूचे पदार्थ,जैविक अभ्यास,सेमीकंडक्टर,भूगर्भशास्त्र
सेवा व्याप्ती
अर्धवाहक पदार्थ, सेंद्रिय लहान रेणू पदार्थ, पॉलिमर पदार्थ, सेंद्रिय/अकार्बनिक संकरित पदार्थ, अकार्बनिक अधातू पदार्थ
सेवा पार्श्वभूमी
सेमीकंडक्टर इलेक्ट्रॉनिक्स आणि इंटिग्रेटेड सर्किट तंत्रज्ञानाच्या जलद प्रगतीसह, डिव्हाइस आणि सर्किट स्ट्रक्चर्सच्या वाढत्या जटिलतेमुळे मायक्रोइलेक्ट्रॉनिक चिप प्रक्रिया निदान, अपयश विश्लेषण आणि मायक्रो/नॅनो फॅब्रिकेशनच्या आवश्यकता वाढल्या आहेत.ड्युअल बीम FIB-SEM प्रणालीत्याच्या शक्तिशाली अचूक मशीनिंग आणि सूक्ष्म विश्लेषण क्षमतांसह, मायक्रोइलेक्ट्रॉनिक डिझाइन आणि उत्पादनात अपरिहार्य बनले आहे.
ड्युअल बीम FIB-SEM प्रणालीफोकस्ड आयन बीम (FIB) आणि स्कॅनिंग इलेक्ट्रॉन मायक्रोस्कोप (SEM) दोन्ही एकत्रित करते. हे FIB-आधारित मायक्रोमशीनिंग प्रक्रियांचे रिअल-टाइम SEM निरीक्षण सक्षम करते, इलेक्ट्रॉन बीमच्या उच्च स्थानिक रिझोल्यूशनला आयन बीमच्या अचूक मटेरियल प्रोसेसिंग क्षमतांसह एकत्रित करते.
सेवा वस्तू
जागा-विशिष्ट क्रॉस-सेक्शन तयारी
Tईएम नमुना इमेजिंग आणि विश्लेषण
Sऐच्छिक एचिंग किंवा वर्धित एचिंग तपासणी
Mइटल आणि इन्सुलेटिंग लेयर डिपॉझिशन टेस्टिंग
-
फोन
-
ई-मेल
-
शीर्षस्थानी